晶圓測試探針卡設計與製造

IC產品的發展關係著我們日常生活中的通訊、資訊或消費性等產品之品質與性能至鉅,而新興IC產品之開發與成長對於半導體製造與封測產業之發展極其重要。新興IC產品要能順利量產上市,必須在IC設計階段,就配合其新功能、新規格,同步開發量產測試所需的探針卡及測試設備。

Read more